В настоящем обзоре Тест-центр CRN публикует результаты испытаний, проведенных на выставке PC Expo в Нью-Йорке
Многие из представленных здесь новинок удостоены знака отличия "Рекомендовано" от Тест-центра CRN, но они и так уже входят в элиту, будучи отобранными для тестирования из почти 300 предложений, полученных через Web-узел Тест-центра. Реселлеры могут рассматривать этот знак как свидетельство аттестации инженерами Тест-центра. Продукция, поставки которой еще не начались, не подлежала номинации на этот знак.
Еще до выставки все изделия были тщательно протестированы группой экспертов, в которую вошли штатные инженеры Тест-центра Фрэнк Дж. Олхорст и Марк Спивак, а также специалисты по ИТ Джо Девлин, Дэвид Хафке, Рич Невес и Майкл Врубель. Винсент Рандаццезе, директор лаборатории, координировал работу Тест-центра на PC Expo.
Тест-центр благодарит компании American Power Conversion, Compaq, Cybex, Hewlett-Packard, IBM и Raritan, представившие средства для организации инфраструктуры.